eBook.de : Ihr Online Shop für eBooks, Reader, Downloads und Bücher
Connect 01/2015 eBook-Shops: Testsieger im epub Angebot, Testurteil: gut Die Welt: Kundenorientierte Internetseiten Prädikat GOLD
+49 (0)40 4223 6096
50% und mehr sparen mit den eBook Schnäppchen der Woche² >>
PORTO-
FREI

Particle Characterization: Light Scattering Methods

Lieferbar innerhalb von 3 bis 5 Werktagen
Buch (kartoniert)
Buch (kartoniert) € 149,99* inkl. MwSt.
Portofrei*
Dieser Artikel ist auch verfügbar als:

Produktdetails

Titel: Particle Characterization: Light Scattering Methods
Autor/en: Renliang Xu

ISBN: 1402003579
EAN: 9781402003578
Auflage 2000.
Paperback.
Sprache: Englisch.
Springer Netherlands

30. November 2001 - kartoniert - 420 Seiten

Particle characterization is an important component in product research and development, manufacture, and quality control of particulate materials and an important tool in the frontier of sciences, such as in biotechnology and nanotechnology. This book systematically describes one major branch of modern particle characterization technology - the light scattering methods. This is the first monograph in particle science and technology covering the principles, instrumentation, data interpretation, applications, and latest experimental development in laser diffraction, optical particle counting, photon correlation spectroscopy, and electrophoretic light scattering. In addition, a summary of all major particle sizing and other characterization methods, basic statistics and sample preparation techniques used in particle characterization, as well as almost 500 latest references are provided. The book is a must for industrial users of light scattering techniques characterizing a variety of particulate systems and for undergraduate or graduate students who want to learn how to use light scattering to study particular materials, in chemical engineering, material sciences, physical chemistry and other related fields.
Preface. Acknowledgements. 1. Particle Characterization - An Overview. 2. Light Scattering - The Background Information. 3. Laser Diffraction - Sizing from Nanometers to Millimeters. 4. Optical Particle Counting - Counting and Sizing. 5. Photon Correlation Spectroscopy - Submicron Particle Characterization. 6. Electrophoretic Light Scattering - Zeta Potential Measurement. Appendices. Author Index. Subject Index.
Kundenbewertungen zu Renliang Xu „Particle Characterization: Light Scattering Methods“
Noch keine Bewertungen vorhanden
Zur Rangliste der Rezensenten
Veröffentlichen Sie Ihre Kundenbewertung:
Kundenbewertung schreiben
Unsere Leistungen auf einen Klick
Unser Service für Sie
Zahlungsmethoden
Bequem, einfach und sicher mit eBook.de. mehr Infos akzeptierte Zahlungsarten: Überweisung, offene Rechnung,
Visa, Master Card, American Express, Paypal mehr Infos
Geprüfte Qualität
  • Schnelle Downloads
  • Datenschutz
  • Sichere Zahlung
  • SSL-Verschlüsselung
Servicehotline
+49 (0)40 4223 6096
Mo. - Fr. 8.00 - 20.00 Uhr
Sa. 10.00 - 18.00 Uhr
Chat
Ihre E-Mail-Adresse eintragen und kostenlos informiert werden:
2 Diese Artikel unterliegen nicht der Preisbindung, die Preisbindung dieser Artikel wurde aufgehoben oder der Preis wurde vom Verlag gesenkt. Die jeweils zutreffende Alternative wird Ihnen auf der Artikelseite dargestellt. Angaben zu Preissenkungen beziehen sich auf den vorherigen Preis.

4 Der gebundene Preis dieses Artikels wird nach Ablauf des auf der Artikelseite dargestellten Datums vom Verlag angehoben.

5 Der Preisvergleich bezieht sich auf die unverbindliche Preisempfehlung (UVP) des Herstellers.

6 Der gebundene Preis dieses Artikels wurde vom Verlag gesenkt. Angaben zu Preissenkungen beziehen sich auf den vorherigen Preis.

7 Die Preisbindung dieses Artikels wurde aufgehoben. Angaben zu Preissenkungen beziehen sich auf den vorherigen Preis.

* Alle Preise verstehen sich inkl. der gesetzlichen MwSt. Informationen über den Versand und anfallende Versandkosten finden Sie hier.

eBook.de - Meine Bücher immer dabei
eBook.de ist eine Marke der Hugendubel Digital GmbH & Co. KG
Folgen Sie uns unter: